Rasterelektronenmikroskopie (REM)
Analyt
Feste Systeme; Systeme mit flüssiger Phase;
Composite, Werkstoffe, organische und anorganische Stoffe, dünne Schichten
Ausstattung
- Gerät: GeminiSEM 300 (Zeiss), Beschleunigungsspannung 0,02 kV ... 30 kV
- Auflösung: 0,8 nm bei 15 kV
- Vergrößerung: 12x - 2.000.000x
- Everhart-Thornley SE-Detektor
- inLens-Detektor
- ESB-Detektor (energieselektiver Detektor für Rückstreuelektronen)
- VP-Modus (Niedervakuum: 5 - 500 PA)
- Kryo-Transfer-System Alto 2500
- EDX (energiedispersive Röntgenmikroanalyse), Oxford Instruments X-Max 80 (Silcon Drift Detector)
- Digitale Bilderfassung und Archivierung
Auswertungsmethoden und Zielgrößen
- Bildanalyse mittels Bildverarbeitungssoftware (SIS GmbH): Bestimmung von Partikelgrößen und deren Verteilung
- Morphologie von Brüchen, Schnitten und Oberflächen mit einer Auflösung bis 10 nm
- Qualitative und quantitative Elementanalyse
- Identifizierung von morphologischen Strukturen in biologischen und synthetischen Systemen
- Erfassung von Struktur-Eigenschafts-Korrelationen in Abhängigkeit von Herstellungs- bzw. Wachstumsparametern, insbesondere natürlicher Polymere
- Untersuchung von flüssigen (insbesondere wasserbasierten) Systemen mit Kryo-REM
- Bestimmung der Elementzusammensetzung von Mikrostrukturen
Anwendungen
- Feuchte Carbamatfasern: Bruchmorphologie in Kryo-Transfertechnik
(siehe Bildergalerie) - Mikrokapseln: Oberfläche und Wandstärke (siehe Bildergalerie)
- Composit: PLA-Matrix mit Cellulosefasern, Bruchmorphologie (siehe Bildergalerie)
- Kryo-REM für Poren- und Phasenbildung in zementbasierten Bindemitteln
Vergleichs- und Ergänzungsmethoden
- Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
- Lichtmikroskopie (LM)
- ESCA