Oberflächenanalytik

Analyt

Oberflächen von Festkörpern (inkl. Pulvern, Granulaten, Fäden, Geweben etc.)

• Probenmenge: > 0,3 mm x 0,7 mm
• max. Probengröße: 30 mm x 60 mm x 19 mm
  
• Analysentiefe: <~ 10 nm
• Nachweisempfindlichkeit: 0,02 - 0,5 at%

Ausstattung

Kratos Axis Supra+

• Röntgenquellen: monochromatisierte Al-Quelle, Al/Mg-Dualanode-Röhre
• Größe des Messflecks: normal: 300 µm x 700 µm; Microspot-Messung: 120 µm, 60 µm, 30 µm
• Chemical State Imaging, Auflösung max. ca. 2 µm
  
• Analysewinkel variabel
• Tiefenprofil mit Argonionen (anorganische Proben) oder Argon-Cluster-Ionen zum schonenden Abtrag organischer Substanzen

Zielgrößen

• Konzentration der Elemente (außer Wasserstoff und Helium) in der Oberfläche
• Bindungszustände der Elemente, Oxidationszustand, Bindungspartner, organische Funktionalgruppen
  
• Verteilung dieser Größen lateral und in der Tiefe

Anwendungen

• Kontrolle von Reinigung, Aktivierungen, Funktionalisierung und Beschichtungen von Oberflächen
• Analyse von Fehlerursachen beim Verkleben, Bedrucken, Beschichten, etc.
• chemische Analyse von Beschichtungen, Adsorbatschichten, Kontaminationen, etc.
• in Kombination mit Derivatisieungs- bzw. Markierungstechniken Bestimmung von Funktionalgruppenkonzentrationen auf organischen Oberflächen
• Strukturanalysen von organischen Stoffen (z.B. Substitutionsgrad von Polymeren, Zusammensetzung von Peptiden, Beschichtungen)
  

Vergleichs- und Ergänzungsmethoden

• Fluoreszenzmarkierung (FL)
• Kontaktwinkelmessung (CAG)
• Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS)